IPC G01R31/303 專利列表
共 6 筆結果
使用井偏壓修正的積體電路測試方法
萬國商業機器公司
案號 0931043472004-02-20IPC G01R31/303
監控積體電路之方法與裝置
聯發科技股份有限公司
案號 0921312962003-11-07IPC G01R31/303
電力偵測器及其偵測方法
華邦電子股份有限公司
案號 0921185592003-07-08IPC G01R31/303
光碟晶片測試板及其中之相位移位射頻訊號產生電路
威盛電子股份有限公司
案號 0921182962003-07-04IPC G01R31/303
積體電路之檢測方法
盛群半導體股份有限公司
案號 0921010562003-01-17IPC G01R31/303
藉由使用嵌入式記憶體陣列的分部以達到較高產品產率之方法及裝置
惠普公司
案號 0911358562002-12-11IPC G01R31/303