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IPC G01R31/319 專利列表

共 3 筆結果

用於測試至少一待測物之半導體測試系統的分散式作業系統

艾德文斯特公司

案號 0931035122004-02-13IPC G01R31/319

自動測試設備之單晶片Ⅰ負載架構

特爾亞喜通信公司

案號 0921127872003-05-12IPC G01R31/319

訊號檢測用接觸體及訊號校正系統

東京威力科創股份有限公司

案號 0921058032003-03-17IPC G01R31/319

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