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IPC G01T1/16 專利列表

共 4 筆結果

輻射性斷層掃描儀的散射修正裝置和方法

國立清華大學

案號 0931012362004-01-16IPC G01T1/161

放射線檢測器

濱松赫德尼古斯股份有限公司

案號 0921258442003-09-19IPC G01T1/16

含Ｙｂ之混晶氧化物單結晶，含該單結晶之發光材料，γ光線檢測裝置以及正電子斷層攝影裝置

小池股份有限公司

案號 0921157932003-06-11IPC G01T1/16

放射線檢測器

濱松赫德尼古斯股份有限公司

案號 0921130632003-05-14IPC G01T1/161

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