IPC H01L21/8229 專利列表
共 8 筆結果
對接觸孔形成所造成損害有抗性之電荷捕捉記憶體陣列
賽普拉斯半導體公司
案號 0931013432004-01-19IPC H01L21/8229
非揮發記憶體的結構與製造方法
力晶積成電子製造股份有限公司
案號 0921267932003-09-29IPC H01L21/8229
記憶體電路製作方法
南亞科技股份有限公司
案號 0921261862003-09-23IPC H01L21/8229
半導體裝置及其製造方法
海力士半導體股份有限公司
案號 0921194042003-07-16IPC H01L21/8229
半導體記憶裝置及其製造方法
史班遜股份有限公司
案號 0921179132003-06-30IPC H01L21/8229
包含鐵電式電容器之半導體裝置及其製造方法
ＮＥＣ電子股份有限公司
案號 0921145352003-05-29IPC H01L21/8229
字元線交接點佈局結構
旺宏電子股份有限公司
案號 0921099612003-04-29IPC H01L21/8229
機電三層接合裝置之製法
奈特洛公司
案號 0911375622002-12-27IPC H01L21/8229