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專利資訊
積體電路測試之方法與系統及預調節積體電路
恩智浦股份有限公司
申請案號
091132389
公告號
200407550
申請日期
2002-11-01
申請人
恩智浦股份有限公司
發明人
埃佛 威爾海穆斯 約翰尼斯 瑪利 拉登
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G01R31/28
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