IPC G01R31/28 專利列表
共 48 筆結果
電子元件的測試裝置以及測試方法
愛德萬測試股份有限公司
案號 0931084682004-03-29IPC G01R31/28
測試裝置
愛德萬測試股份有限公司
案號 0931077292004-03-23IPC G01R31/28
背光模組檢測設備
群創光電股份有限公司
案號 0931058022004-03-05IPC G01R31/28
自動化電路板測試致動器系統
英特爾股份有限公司
案號 0931054002004-03-02IPC G01R31/28
具內建自我測試之積體電路及其設計方法
財團法人工業技術研究院
案號 0931031502004-02-11IPC G01R31/28
用以測試一基板上複數個基板單元之裝置以及方法
日月光半導體製造股份有限公司
案號 0931019852004-01-29IPC G01R31/28
平面顯示器的測試裝置
友達光電股份有限公司
案號 0931000242004-01-02IPC G01R31/28
半導體積體電路之測試裝置
松下電器產業股份有限公司
案號 0921373112003-12-29IPC G01R31/28
電壓變頻器之測試裝置
銥寶電子股份有限公司
案號 0921372342003-12-26IPC G01R31/28
數位類比轉換器之訓練電路及方法與類比數位轉換器
旺玖科技股份有限公司
案號 0921335092003-11-28IPC G01R31/28
電氣探針系統
日本發條股份有限公司
案號 0921323772003-11-19IPC G01R31/28
用於測試一或多個導體組件之轉接器
Ａｔｇ測試系統股份有限公司
案號 0921321862003-11-17IPC G01R31/28
具測試埋入式ＤＲＡＭ電路之ＢＩＳＴ電路之測試控制器
英飛凌科技股份有限公司
案號 0921306292003-11-03IPC G01R31/28
電腦主機板輸出入埠的測試方法
威盛電子股份有限公司
案號 0921292392003-10-22IPC G01R31/28
測試邏輯及平行嵌入式記憶體
萬國商業機器公司
案號 0921292662003-10-22IPC G01R31/28
非破壞性接觸的檢測方法
統寶光電股份有限公司
案號 0921280462003-10-09IPC G01R31/28
平面顯示器之測試裝置與其操作方法
統寶光電股份有限公司
案號 0921251522003-09-12IPC G01R31/28
半導體積體電路裝置及其調整方法
賽普拉斯半導體公司
案號 0921235842003-08-27IPC G01R31/28
用於事件基測試系統之事件管線和總合之方法及裝置
艾德文斯特公司
案號 0921190622003-07-11IPC G01R31/28
半導體測試裝置及半導體測試方法
夏普股份有限公司
案號 0921189012003-07-10IPC G01R31/28