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專利資訊
半導體記憶裝置及其測試方法與測試電路
NEC電子股份有限公司
申請案號
091135907
公告號
200300940
申請日期
2002-12-11
申請人
NEC電子股份有限公司
發明人
高橋弘行
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G11C11/406
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