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專利資訊
適用於積體電路晶片之訊號檢測方法
威盛電子股份有限公司
申請案號
091137020
公告號
200411194
申請日期
2002-12-23
申請人
威盛電子股份有限公司
發明人
林益明
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G01R31/26
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