IPC G01R31/26 專利列表
共 68 筆結果
探測卡之介面板
南茂科技股份有限公司
案號 0931065602004-03-11IPC G01R31/26
晶片安裝用帶的檢查方法及使用於檢查的測試裝置
日本發條股份有限公司
案號 0931043232004-02-20IPC G01R31/26
半導體元件測試裝置及方法
奎登系統有限公司
案號 0931043642004-02-20IPC G01R31/26
探針的零點檢測方法及探針裝置
歐克科技股份有限公司
案號 0931041022004-02-19IPC G01R31/26
封裝後強化測試之結構與方法
群成科技股份有限公司
案號 0931036772004-02-16IPC G01R31/26
ＴＣＰ裝處理裝置及該裝置之位置偏差補償方法
日本工學股份有限公司
案號 0931018202004-01-28IPC G01R31/26
可實施老化與電性測試之晶圓及其實施方法
奇景光電股份有限公司
案號 0931007222004-01-12IPC G01R31/26
積體電路故障分析的方法
台灣積體電路製造股份有限公司
案號 0921315932003-11-11IPC G01R31/26
可自行校準之晶體振盪器和其校準方法及其特殊應用積體電路
晶豪科技股份有限公司
案號 0921309182003-11-05IPC G01R31/26
積體電路測試系統
柏晶科技股份有限公司
案號 0921292192003-10-22IPC G01R31/26
利用低速測試器之高頻掃描可測試性技術
ＭＩＰＳ科技公司
案號 0921269912003-09-30IPC G01R31/26
基於工具開發及控制目的之用以量化均一性類型並納入專家知識的方法
蘭姆研究公司
案號 0921266472003-09-26IPC G01R31/26
具有模擬修整的積體電路和其模擬與修整方法
凌越科技股份有限公司
案號 0921258642003-09-19IPC G01R31/26
電子裝置檢查用接觸片及其製法
大日本印刷股份有限公司
案號 0921247622003-09-08IPC G01R31/26
微分析（ＭＩＣＲＯ ＰＲＯＢＩＮＧ）方法
台灣積體電路製造股份有限公司
案號 0921241772003-09-02IPC G01R31/26
電子元件測試裝置
阿德潘鐵斯特股份有限公司
案號 0921241752003-09-02IPC G01R31/26
積體電路產品之實體線路位址標示系統及方法
台灣積體電路製造股份有限公司
案號 0921241762003-09-02IPC G01R31/26
半導體元件測試用之電路承載板及測試裝置
日月光半導體製造股份有限公司
案號 0921239552003-08-29IPC G01R31/26
晶圓測試方法
日月光半導體製造股份有限公司
案號 0921226142003-08-18IPC G01R31/26
銲不黏偵測方法
日月光半導體製造股份有限公司
案號 0921223992003-08-14IPC G01R31/26