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專利資訊
半導體積體電路及其測試方法
日立製作所股份有限公司
申請案號
092109384
公告號
200400514
申請日期
2003-04-22
申請人
日立製作所股份有限公司
發明人
高澤義生
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G11C29/00
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