IPC G11C29/00 專利列表
共 59 筆結果
內建自我測試電路之半導體記憶體晶片裝置
聯華電子股份有限公司
案號 0931080202004-03-24IPC G11C29/00
半導體記憶裝置
ＰＳ４盧克斯科公司
案號 0931061312004-03-09IPC G11C29/00
冗餘電路及使用此冗餘電路之半導體裝置
ＰＳ４盧克斯科公司
案號 0931028012004-02-06IPC G11C29/00
同步輸出緩衝器，同步記憶裝置及測試存取時間的方法
三星電子股份有限公司
案號 0931008122004-01-13IPC G11C29/00
得知電荷轉換陣列電晶體特性及實際應力下老化程度之方法及電路與其在ＤＲＡＭ ＭＯＳＦＥＴ陣列電晶體之實現
咕果公司
案號 0931001622004-01-05IPC G11C29/00
操作記憶體積體電路及讀取在複數之可再程式化之非揮發性記憶體單元中儲存作為電荷位準的資料的方法，儲存裝置，以及記憶體系統
桑迪士克科技公司
案號 0921350512003-12-11IPC G11C29/00
一種定範圍待測時間轉換方法
張慶元
案號 0921349162003-12-10IPC G11C29/00
測試期間記憶體冗餘之開啟
萬國商業機器公司
案號 0921336812003-12-01IPC G11C29/00
非揮發性半導體記憶裝置及列線短路缺陷檢測方法
三星電子股份有限公司
案號 0921335662003-11-28IPC G11C29/00
測試半導體記憶體元件的方法及用於半導體記憶體元件的測試電路
瑞薩電子股份有限公司
案號 0921332702003-11-27IPC G11C29/00
提供錯誤校正碼測試功能之系統與方法
慧與發展有限責任合夥企業
案號 0921330482003-11-25IPC G11C29/00
橋接與連續性測試的測試式樣
上海宏力半導體製造有限公司
案號 0921307842003-11-04IPC G11C29/00
使用預先配置冗餘架構之記憶體陣列之自我修復
飛思卡爾半導體公司
案號 0921306552003-11-03IPC G11C29/00
半導體裝置及其試驗方法
瑞薩電子股份有限公司
案號 0921286132003-10-15IPC G11C29/00
一種ＮＡＮＤ閘快閃記憶體測試／修復／燒錄／分析四合一裝置
至上電子股份有限公司
案號 0921258352003-09-19IPC G11C29/00
半導體記憶裝置之測試驅動方法
南亞科技股份有限公司
案號 0921256962003-09-18IPC G11C29/00
辨識磁性隨機存取記憶體中微弱位元之方法及電路
飛思卡爾半導體公司
案號 0921250772003-09-10IPC G11C29/00
檢測測試電路
億恆科技股份公司
案號 0921245132003-09-04IPC G11C29/00
半導體裝置
瑞薩電子股份有限公司
案號 0921241912003-09-02IPC G11C29/00
具選擇啟動輸出電路而用於測試模式之記憶裝置及其測試方法
三星電子股份有限公司
案號 0921239572003-08-29IPC G11C29/00