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於高密度電漿處理室內蝕刻相對於氧化物具有高選擇性之氮化矽間隙壁之方法
應用材料股份有限公司
申請案號
092112051
公告號
200405460
申請日期
2003-05-01
申請人
應用材料股份有限公司
發明人
崔金韓
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
H01L21/3065
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