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專利資訊
偏光膜之檢查方法以及檢查裝置
住友化學工業股份有限公司
申請案號
092112548
公告號
200307117
申請日期
2003-05-08
申請人
住友化學工業股份有限公司
發明人
篠塚淳彥
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G01B11/24
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