IPC G01B11/24 專利列表
共 22 筆結果
使用光電放大器之板撓曲量測
英特爾股份有限公司
案號 0931069872004-03-16IPC G01B11/24
一種偏極片的檢測方法
力特光電科技股份有限公司
案號 0931031182004-02-10IPC G01B11/24
高速板彎校正系統及其方法
平成科貿股份有限公司
案號 0931026632004-02-05IPC G01B11/24
ＵＣ鑽頭之刃長檢查法
姚福來
案號 0931007152004-01-12IPC G01B11/24
用於同步二維及地形檢測之方法及裝置
奧寶科技有限公司
案號 0931005622004-01-09IPC G01B11/24
量測待測物表面輪廓之裝置及方法
財團法人工業技術研究院
案號 0931005992004-01-09IPC G01B11/24
投射式可調變圖紋之３Ｄ量測系統
財團法人金屬工業研究發展中心
案號 0921306832003-11-03IPC G01B11/24
電子零件安裝用薄膜承載膠帶的檢查方法及用於該方法之電子零件安裝用薄膜承載膠帶的檢查裝置
三井金屬礦業股份有限公司
案號 0921303592003-10-30IPC G01B11/24
一種奈米級雙軸輪廓量測裝置
國立虎尾科技大學
案號 0921296932003-10-24IPC G01B11/24
無陰影三維及二維測量系統及方法
索維遜股份有限公司
案號 0921244582003-09-04IPC G01B11/24
虛擬補償之非球面量測法
財團法人國家實驗研究院
案號 0921210682003-07-31IPC G01B11/24
工件用之外部檢查裝置及外部檢查方法
山葉汎提克股份有限公司
案號 0921150902003-06-03IPC G01B11/24
供積體電路光學量測用之波長的選擇
東京威力科創美國股份有限公司
案號 0921143722003-05-28IPC G01B11/24
偏光膜的檢查方法以及檢查裝置
住友化學工業股份有限公司
案號 0921125502003-05-08IPC G01B11/24
偏光膜之檢查方法以及檢查裝置
住友化學工業股份有限公司
案號 0921125482003-05-08IPC G01B11/24
電阻焊管之焊縫切削形狀之測試方法及裝置
ＪＦＥ鋼鐵股份有限公司
案號 0921097612003-04-25IPC G01B11/24
底切多層繞射結構之散射測量法
安格盛光電科技股份有限公司
案號 0921087652003-04-16IPC G01B11/24
表面狀態檢查方法及基板檢查裝置
歐姆龍股份有限公司
案號 0921002892003-01-08IPC G01B11/24
檢查圖案之方法
奧寶科技有限公司
案號 0911380532002-12-31IPC G01B11/24
矽液晶微型顯示器之翹曲度量測方法
南茂科技股份有限公司
案號 0911362232002-12-12IPC G01B11/24