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專利資訊
顯微鏡聚焦測高方法
東捷科技股份有限公司
申請案號
092113913
公告號
200426343
申請日期
2003-05-22
申請人
東捷科技股份有限公司
發明人
嚴燦焜
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G01B11/02
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