IPC G01B11/02 專利列表
共 13 筆結果
位移計及位移測定方法
其恩斯股份有限公司
案號 0931075032004-03-19IPC G01B11/02
ＰＣ板鑽孔用ＵＣ鑽頭之切削韌帶長度檢測方法
厚圖科技有限公司
案號 0931040192004-02-18IPC G01B11/02
具有自我參照對比控制之適應性光學系統
ＨＲＬ實驗有限公司
案號 0921358142003-12-17IPC G01B11/02
尺寸測定方法及裝置
Ｖ科技股份有限公司
案號 0921302452003-10-30IPC G01B11/02
光學丈量裝置
浦建華
案號 0921278762003-10-07IPC G01B11/02
光學式相對位移偵測裝置
宇東電漿科技有限公司
案號 0921260172003-09-19IPC G01B11/02
離心沉降式之粉粒體粒徑線上量測分析裝置
財團法人精密機械研究發展中心
案號 0921239412003-08-29IPC G01B11/02
光學量測用之模型及參數選擇技術
東京威力科創美國股份有限公司
案號 0921198112003-07-21IPC G01B11/02
顯微鏡聚焦測高方法
東捷科技股份有限公司
案號 0921139132003-05-22IPC G01B11/02
一種定向機台的即時檢正系統
奇美電子股份有限公司
案號 0921078122003-04-04IPC G01B11/02
線寬測定方法及線寬測定裝置
Ｖ科技股份有限公司
案號 0921011382003-01-20IPC G01B11/02
線性量測裝置之製作方法
財團法人精密機械研究發展中心
案號 0911380202002-12-31IPC G01B11/02
影像測量系統及方法
鴻海精密工業股份有限公司
案號 0911372382002-12-25IPC G01B11/02