IP
NowTo 智財通
EN
首頁
/
專利資訊
原位式奈米壓印微影技術之模具變形監測的方法與系統
賀陳弘
申請案號
092114912
公告號
200427979
申請日期
2003-06-02
申請人
賀陳弘
發明人
賀陳弘
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G01N21/84
查看申請人公司資訊
本站使用 Cookie 進行流量分析,以提供更好的使用體驗。
拒絕
接受
×
原位式奈米壓印微影技術之模具變形監測的方法與系統 - 專利資訊 | NowTo 智財通