IPC G01N21/84 專利列表
共 8 筆結果
發燒篩檢之方法
南台科技大學
案號 0931049762004-02-26IPC G01N21/84
免除不必要鏡面反射之照明方法及其裝置
平成科貿股份有限公司
案號 0931026702004-02-05IPC G01N21/84
基板之光檢測裝置
ＤＥ＆Ｔ股份有限公司
案號 0921248742003-09-09IPC G01N21/84
工業產品的目視檢查支援裝置
日立技研股份有限公司
案號 0921232082003-08-22IPC G01N21/84
原位式奈米壓印微影技術之模具變形監測的方法與系統
賀陳弘
案號 0921149122003-06-02IPC G01N21/84
偵測電路晶片缺陷的方法
台灣積體電路製造股份有限公司
案號 0921089832003-04-17IPC G01N21/84
脆性材料基板端面部之檢查方法及其裝置
三星鑽石工業股份有限公司
案號 0911338822002-11-20IPC G01N21/84
保持裝置
奧林柏士股份有限公司
案號 0911325382002-11-04IPC G01N21/84