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專利資訊
殘膜監測裝置、研磨裝置、半導體元件製造方法以及半導體元件
尼康股份有限公司
申請案號
092115618
公告號
200404643
申請日期
2003-06-10
申請人
尼康股份有限公司
發明人
若宮孝一
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
B24B49/12
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