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使用原子層沉積形成二氧化矽層於基底的方法與利用前述方法形成的半導體元件

三星電子股份有限公司

申請案號
092116363
公告號
200407981
申請日期
2003-06-17
申請人
三星電子股份有限公司
發明人
李周遠
資料更新日
2026-04-04

IPC 分類

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使用原子層沉積形成二氧化矽層於基底的方法與利用前述方法形成的半導體元件 - 專利資訊 | NowTo 智財通