IP

用於積體電路裝置中測試之內部產生圖案

倫巴司股份有限公司

申請案號
092120102
公告號
200403442
申請日期
2003-07-23
申請人
倫巴司股份有限公司
發明人
愛德瑞恩 翁
資料更新日
2026-04-04

IPC 分類

本站使用 Cookie 進行流量分析,以提供更好的使用體驗。

用於積體電路裝置中測試之內部產生圖案 - 專利資訊 | NowTo 智財通