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專利資訊
離心沉降式之粉粒體粒徑線上量測分析裝置
財團法人精密機械研究發展中心
申請案號
092123941
公告號
200508568
申請日期
2003-08-29
申請人
財團法人精密機械研究發展中心
發明人
張立信
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G01B11/02
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