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專利資訊
探測方法、探測裝置及電極之還原/電漿蝕刻處理機構
歐克科技股份有限公司
申請案號
092124120
公告號
200416779
申請日期
2003-09-01
申請人
歐克科技股份有限公司
發明人
奧村勝彌
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
H01L21/00
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