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專利資訊
在晶片上即時可靠度測試之測試結構及其方法
特許半導體製造公司
申請案號
092125143
公告號
200406590
申請日期
2003-09-12
申請人
特許半導體製造公司
發明人
印德拉吉特瑪納
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G01R31/00
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