IPC G01R31/00 專利列表
共 59 筆結果
震盪器測試裝置
日月光半導體製造股份有限公司
案號 0931082372004-03-26IPC G01R31/00
用於電子晶片元件之處理裝置及用於電子晶片元件之處理方法
村田製作所股份有限公司
案號 0931080932004-03-25IPC G01R31/00
測試非元件式電路板之方法
Ａｔｇ測試系統股份有限公司
案號 0931078362004-03-23IPC G01R31/00
具有多數個可選擇性提供輸出訊號的資料輸出接腳的半導體積體電路以及其測試方法
三星電子股份有限公司
案號 0931069252004-03-16IPC G01R31/00
驅動電路之量測方法
統寶光電股份有限公司
案號 0931068012004-03-15IPC G01R31/00
瞬時耦合感測板偵測電路板電路狀態之方法
郭晟讋
案號 0931067932004-03-15IPC G01R31/00
探針元件及其測試卡
旺矽科技股份有限公司
案號 0931063922004-03-10IPC G01R31/00
測試一電子元件是否準確連結於一電路板之測試裝置及測試方法
和碩聯合科技股份有限公司
案號 0931059932004-03-05IPC G01R31/00
傘式可調節距預燒承座
蕭德瑛
案號 0931052392004-02-27IPC G01R31/00
用於射頻與直流量測的元件監視器
財團法人國家實驗研究院
案號 0931047372004-02-25IPC G01R31/00
ＵＳＢ介面之實體層結構及其測試方法
台灣積體電路製造股份有限公司
案號 0931045552004-02-24IPC G01R31/00
主機板功能測試板
鴻海精密工業股份有限公司
案號 0931045822004-02-24IPC G01R31/00
桌上型離心式微流道晶片測試方法及其裝置
南亞技術學院
案號 0931044832004-02-23IPC G01R31/00
垂直式彈性探針及附壓力感測器之晶圓級垂直式針測卡
中華大學
案號 0931036702004-02-16IPC G01R31/00
薄膜電位量測系統
中原大學
案號 0931034392004-02-13IPC G01R31/00
檢測電子元件陣列的方法和裝置
先進自動器材有限公司
案號 0931029852004-02-10IPC G01R31/00
測量半導體晶圓電性質之裝置及方法
固態量測股份有限公司
案號 0931024372004-02-03IPC G01R31/00
薄膜電晶體動態矩陣基板之檢查裝置及方法
安捷倫科技公司
案號 0931023002004-02-02IPC G01R31/00
動態矩陣顯示器電路基板、包含該基板之顯示器面板、其檢查方法及其檢查裝置
安捷倫科技公司
案號 0931023022004-02-02IPC G01R31/00
掃描式探針檢驗裝置
瑞薩電子股份有限公司
案號 0931022132004-01-30IPC G01R31/00