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專利資訊
具有高強度探針之奈米機械性質測量裝置
均豪精密工業股份有限公司
申請案號
092126926
公告號
200512445
申請日期
2003-09-30
申請人
均豪精密工業股份有限公司
發明人
方得華
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G01N13/10
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具有高強度探針之奈米機械性質測量裝置 - 專利資訊 | NowTo 智財通