IPC G01N13/10 專利列表
共 7 筆結果
具原子力顯微鏡探針之結構
量能奈米整合科技股份有限公司
案號 0931080742004-03-25IPC G01N13/10
具可量測中空物體之原子力顯微鏡結構
量能奈米整合科技股份有限公司
案號 0931080792004-03-25IPC G01N13/10
置換顯微鏡探針之結構
量能奈米整合科技股份有限公司
案號 0931080752004-03-25IPC G01N13/10
一種可於探針就定位後之原子力掃描顯微儀探針彈簧常數的校準方法
黎文龍
案號 0921295332003-10-24IPC G01N13/10
具有高強度探針之奈米機械性質測量裝置
均豪精密工業股份有限公司
案號 0921269262003-09-30IPC G01N13/10
工件材料表面形貌處理方法
林仁輝
案號 0921085122003-04-14IPC G01N13/10
改善對材料表面作定性分析之方法
林仁輝
案號 0921085132003-04-14IPC G01N13/10