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專利資訊
一種奈米級雙軸輪廓量測裝置
國立虎尾科技大學
申請案號
092129693
公告號
200514961
申請日期
2003-10-24
申請人
國立虎尾科技大學
發明人
覺文郁
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G01B11/24
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