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專利資訊
包含掃描測試電路之積體電路裝置以及其測試方法
三星電子股份有限公司
申請案號
092133128
公告號
200419164
申請日期
2003-11-26
申請人
三星電子股份有限公司
發明人
鄭勝在
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G01R31/00
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