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專利資訊
測試半導體記憶體元件的方法及用於半導體記憶體元件的測試電路
瑞薩電子股份有限公司
申請案號
092133270
公告號
200418041
申請日期
2003-11-27
申請人
瑞薩電子股份有限公司
發明人
伊藤宗廣
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G11C29/00
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