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用於積體電路之嵌入式自我測試之分層結構

安華高科技通用ＩＰ（新加坡）公司

申請案號
092134419
公告號
200416399
申請日期
2003-12-05
申請人
安華高科技通用ＩＰ（新加坡）公司
發明人
義陽　金
資料更新日
2026-04-04

IPC 分類

G01R31/00
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用於積體電路之嵌入式自我測試之分層結構 - 專利資訊 | NowTo 智財通