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於半導體製程中改善足部效應缺陷的方法
中芯國際集成電路製造(上海)有限公司
申請案號
092134501
公告號
200520090
申請日期
2003-12-05
申請人
中芯國際集成電路製造(上海)有限公司
發明人
王剛寧
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
H01L21/31
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