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於半導體製程中改善足部效應缺陷的方法

中芯國際集成電路製造(上海)有限公司

申請案號
092134501
公告號
200520090
申請日期
2003-12-05
申請人
中芯國際集成電路製造(上海)有限公司
發明人
王剛寧
資料更新日
2026-04-04

IPC 分類

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於半導體製程中改善足部效應缺陷的方法 - 專利資訊 | NowTo 智財通