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具內建自我測試之積體電路及其設計方法

財團法人工業技術研究院

申請案號
093103150
公告號
200526971
申請日期
2004-02-11
申請人
財團法人工業技術研究院
發明人
羅珮文
資料更新日
2026-04-04

IPC 分類

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具內建自我測試之積體電路及其設計方法 - 專利資訊 | NowTo 智財通