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專利資訊
具內建自我測試之積體電路及其設計方法
財團法人工業技術研究院
申請案號
093103150
公告號
200526971
申請日期
2004-02-11
申請人
財團法人工業技術研究院
發明人
羅珮文
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G01R31/28
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