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專利資訊
研磨機台之膜層厚度的偵測裝置與方法
應用材料股份有限公司
申請案號
093106233
公告號
200529974
申請日期
2004-03-09
申請人
應用材料股份有限公司
發明人
沈俊賢
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
B24B49/12
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