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專利資訊
內建自我測試電路之半導體記憶體晶片裝置
聯華電子股份有限公司
申請案號
093108020
公告號
200532700
申請日期
2004-03-24
申請人
聯華電子股份有限公司
發明人
何明瑾
資料更新日
2026-04-04
IPC 分類
G11C29/00
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