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內建自我測試電路之半導體記憶體晶片裝置

聯華電子股份有限公司

申請案號
093108020
公告號
200532700
申請日期
2004-03-24
申請人
聯華電子股份有限公司
發明人
何明瑾
資料更新日
2026-04-04

IPC 分類

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