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IPC G01B15/02 專利列表

共 3 筆結果

使用量測之基礎光譜及／或基於已獲得之光譜之薄膜之非破壞性特性化

美商諾威量測設備公司

案號 0921371332003-12-26IPC G01B15/02

膜厚量測方法及微波量測設備

仁寶電腦工業股份有限公司

案號 0921156512003-06-10IPC G01B15/02

量測薄膜厚度之方法及裝置

華普索魯瓊股份有限公司

案號 0911380992002-12-31IPC G01B15/02

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