IPC G01N21/95 專利列表
共 14 筆結果
配線圖案檢查裝置
牛尾電機股份有限公司
案號 0931073422004-03-18IPC G01N21/956
偵測透明材料中缺陷之方法及裝置
史考特公司
案號 0931070762004-03-17IPC G01N21/958
用於使用動態可程式光空間濾波之大型平面圖案媒體的高通量檢查之方法與裝置
飛騰動力公司
案號 0931039322004-02-18IPC G01N21/956
板狀體光學應變評價裝置及方法
日本板硝子股份有限公司
案號 0921368462003-12-25IPC G01N21/958
用以偵測在如滾軋／抽製金屬桿之工件上的表面缺陷之裝置及方法
ＯＧ科技公司
案號 0921329202003-11-24IPC G01N21/95
引腳之檢測裝置及檢測方法
奇景光電股份有限公司
案號 0921289732003-10-20IPC G01N21/956
表面檢查方法及裝置
拓普康股份有限公司
案號 0921281312003-10-09IPC G01N21/956
偵測之方法與裝置
ＡＯＴＩ營運公司
案號 0921195492003-07-17IPC G01N21/95
光學測定方法及其裝置
東麗工程股份有限公司
案號 0921186452003-07-08IPC G01N21/958
印刷電路板檢修測試記憶裝置
神基科技股份有限公司
案號 0921171022003-06-24IPC G01N21/956
自動光學檢查機
奇美電子股份有限公司
案號 0921136242003-05-20IPC G01N21/95
灰階罩幕之缺陷檢查方法及缺陷檢查裝置，暨光罩之缺陷檢查方法及缺陷檢查裝置
ＨＯＹＡ股份有限公司
案號 0921087912003-04-16IPC G01N21/956
半導體基板上圖案之檢查裝置及方法，及實施半導體基板檢查用程式之電腦可讀取式媒體
大日本斯克琳製造股份有限公司
案號 0911354472002-12-06IPC G01N21/956
使用白光干涉量度學之檢查系統及方法
半導體科技設備股份有限公司
案號 0911346532002-11-28IPC G01N21/956