IPC G01R31/00 專利列表
共 59 筆結果
具有測試輸出電路之測試電路的半導體裝置
爾必達存儲器股份有限公司
案號 0931013352004-01-19IPC G01R31/00
水冷式燃料電池系統組件之檢測及功能驗證機組
亞太燃料電池科技股份有限公司
案號 0931005672004-01-09IPC G01R31/00
電池接地故障檢測電路
台達電子股份有限公司
案號 0931004792004-01-08IPC G01R31/00
電路板測試治具
和碩聯合科技股份有限公司
案號 0931004832004-01-08IPC G01R31/00
無線式音訊處理電路板測試平台
英業達股份有限公司
案號 0921375812003-12-31IPC G01R31/00
電路板之檢測定位方法及測試機構
捷智科技股份有限公司
案號 0921364502003-12-22IPC G01R31/00
用於電氣長度匹配之方法與系統
雷神公司
案號 0921358242003-12-17IPC G01R31/00
在探針卡總成中限制超程的設備及方法
鋒法特股份有限公司
案號 0921356092003-12-16IPC G01R31/00
離子束分佈檢測裝置及使用其之離子束配向處理裝置
奇美電子股份有限公司
案號 0921354942003-12-16IPC G01R31/00
半導體積體電路裝置及半導體積體電路裝置內之延遲誤差偵測方法
ＰＳ４盧克斯科公司
案號 0921345542003-12-08IPC G01R31/00
用於積體電路之嵌入式自我測試之分層結構
安華高科技通用ＩＰ（新加坡）公司
案號 0921344192003-12-05IPC G01R31/00
印刷基板的檢查裝置
ＣＫＤ股份有限公司
案號 0921336282003-12-01IPC G01R31/00
電子零件處理裝置及其按壓構件
阿德潘鐵斯特股份有限公司
案號 0921335362003-11-28IPC G01R31/00
包含掃描測試電路之積體電路裝置以及其測試方法
三星電子股份有限公司
案號 0921331282003-11-26IPC G01R31/00
用以接觸待測物之設備和方法
應用材料股份有限公司
案號 0921319772003-11-14IPC G01R31/00
積體電路、積體電路接收診斷資料的診斷裝置及產生診斷資料之方法
ＡＲＭ股份有限公司
案號 0921308662003-11-04IPC G01R31/00
用於積體電路之機載診斷電路及用於在積體電路執行即時診斷操作之方法
ＡＲＭ股份有限公司
案號 0921308682003-11-04IPC G01R31/00
用於檢視平面面板顯示器之方法與裝置
ＬＧ顯示器股份有限公司
案號 0921306982003-11-03IPC G01R31/00
配線基板檢查裝置、及配線基板之檢查方法
索尼化學股份有限公司
案號 0921286802003-10-16IPC G01R31/00
半導體之半導電材料中決定缺陷及不純濃度之方法及裝置
固態量測股份有限公司
案號 0921286342003-10-15IPC G01R31/00