IPC G11C29/00 專利列表
共 59 筆結果
記憶元件之測試方法
瑞薩電子股份有限公司
案號 0921068642003-03-27IPC G11C29/00
半導體記憶體測試圖案之製作方法
三菱電機股份有限公司
案號 0921064792003-03-24IPC G11C29/00
半導體電路及其起始化方法
億恆科技股份公司
案號 0921064152003-03-21IPC G11C29/00
系統整合封裝式之半導體裝置
瑞薩電子股份有限公司
案號 0921054562003-03-13IPC G11C29/00
儲存模組之電子測試方法
億恒科技股份公司
案號 0921043142003-02-27IPC G11C29/00
非易失記憶體測試結構與方法
恩智浦股份有限公司
案號 0921036622003-02-21IPC G11C29/00
電子記憶裝置檢測系統及方法
勤茂資通股份有限公司
案號 0921032592003-02-18IPC G11C29/00
具有內建自我診斷功能之半導體記憶體裝置以及具有該半導體記憶體裝置之半導體裝置
索思未來股份有限公司
案號 0921033062003-02-18IPC G11C29/00
缺陷記憶體之管理系統
吳廷金
案號 0921026112003-02-07IPC G11C29/00
用來藉低速測試器以恢復寫入之可變自動計時架構
鈺創科技股份有限公司
案號 0921023392003-01-29IPC G11C29/00
測試具萬用序列匯流排(USB)介面之記憶裝置的測試方法及其記憶裝置
義隆電子股份有限公司
案號 0921019902003-01-29IPC G11C29/00
半導體積體電路及半導體積體電路之製造方法
日立製作所股份有限公司
案號 0921013792003-01-22IPC G11C29/00
高速測試方法及記憶體裝置
茂德科技股份有限公司
案號 0921005902003-01-13IPC G11C29/00
壓縮測試電路
南亞科技股份有限公司
案號 0911372752002-12-25IPC G11C29/00
記憶體模組之錫球機械性加速壽命試驗方法
南茂科技股份有限公司
案號 0911362222002-12-12IPC G11C29/00
半導體記憶體元件後段修復電路及方法
三星電子股份有限公司
案號 0911358082002-12-11IPC G11C29/00
處理記憶體中缺陷之裝置與方法
三星電機有限公司
案號 0911356132002-12-09IPC G11C29/00
容錯記憶體模組電路
威盛電子股份有限公司
案號 0911348662002-11-29IPC G11C29/00
嵌入式記憶體擷取時間量測方法及裝置
國立清華大學
案號 0911345562002-11-27IPC G11C29/00