IPC G11C29/00 專利列表
共 59 筆結果
半導體積體電路及記憶體之測試方法
松下電器產業股份有限公司
案號 0921237102003-08-28IPC G11C29/00
記憶體用之測試電路
ＮＥＣ電子股份有限公司
案號 0921237812003-08-28IPC G11C29/00
具有修復缺陷胞之功能的ＲＯＭ記憶元件以及修復缺陷胞之方法
三星電子股份有限公司
案號 0921217772003-08-08IPC G11C29/00
半導體記憶電路
瑞薩科技股份有限公司
案號 0921209652003-07-31IPC G11C29/00
可程式化記憶裝置資料壓縮電路
南亞科技股份有限公司
案號 0921196262003-07-18IPC G11C29/00
用於記憶體積體電路之晶圓等級燒錄
鈺創科技股份有限公司
案號 0921189492003-07-11IPC G11C29/00
具有增強測試能力之半導體記憶體裝置
海力士半導體股份有限公司
案號 0921183152003-07-04IPC G11C29/00
記憶元件及自動修復此記憶元件中的缺陷記憶單元之方法及存取此記憶元件的方法
旺宏電子股份有限公司
案號 0921177792003-06-30IPC G11C29/00
減少預燒試驗時之消費電力之半導體記憶裝置
瑞薩科技股份有限公司
案號 0921170642003-06-24IPC G11C29/00
用於在記憶體中軟缺陷偵測之方法和裝置
飛思卡爾半導體公司
案號 0921162622003-06-16IPC G11C29/00
自動修復動態隨機存取記憶體之方法
英飛凌科技股份有限公司
案號 0921133992003-05-16IPC G11C29/00
增加改錯碼的用途及藉由使用有關儲存資料的品質的資訊，以操作多位準記憶體系統
桑迪士克科技有限責任公司
案號 0921133802003-05-16IPC G11C29/00
具不同組及輔助檢驗方向之ＲＡＭ記憶電路
億恆科技股份公司
案號 0921131442003-05-14IPC G11C29/00
記憶卡測試流程及其測試機台
積智日通卡股份有限公司
案號 0921127262003-05-09IPC G11C29/00
一種偵測記憶體存取錯誤的方法
明基電通股份有限公司
案號 0921126302003-05-09IPC G11C29/00
錯誤校正碼記憶體之測試
新加坡商馬維爾亞洲私人有限公司
案號 0921097272003-04-25IPC G11C29/00
具有兩個內部電源、參考電壓產生電路之內部電源電壓控制裝置
ＮＥＣ電子股份有限公司
案號 0921093272003-04-22IPC G11C29/00
具有測試高記憶體位址功能之控制電路及控制方法
威盛電子股份有限公司
案號 0921094032003-04-22IPC G11C29/00
半導體積體電路及其測試方法
日立製作所股份有限公司
案號 0921093842003-04-22IPC G11C29/00
具有記憶體裝置之積體電路、及測試此種積體電路之方法
因芬奈昂技術股份有限公司
案號 0921072952003-03-31IPC G11C29/00