IPC H01L23/544 專利列表
共 16 筆結果
積體電路及封裝之積體電路
英飛凌科技股份有限公司
案號 0921349402003-12-10IPC H01L23/544
積體電路及其製造方法
恩智浦股份有限公司
案號 0921221202003-08-12IPC H01L23/544
可校正製程偏差之對準標記及其對準方法
茂德科技股份有限公司
案號 0921212212003-08-01IPC H01L23/544
防止對準標記移位之半導體晶圓加工方法
艾特梅爾公司
案號 0921186982003-07-09IPC H01L23/544
晶片尺度標記器以及校準標記位置的方法
ＥＯ科技股份有限公司
案號 0921184362003-07-07IPC H01L23/544
晶片尺度標記以及標記方法
ＥＯ科技股份有限公司
案號 0921177912003-06-30IPC H01L23/544
疊合標記之結構以及其形成方法
旺宏電子股份有限公司
案號 0921172332003-06-25IPC H01L23/544
用以標印一諸如半導體晶圓之工作件的方法及系統以及使用於此之雷射標印器
ＧＳＩ拉莫尼斯公司
案號 0921134642003-05-19IPC H01L23/544
晶圓之清潔及打設標記方法
日月光半導體製造股份有限公司
案號 0921065532003-03-24IPC H01L23/544
避免金屬沉積在對準記號上之方法
應用材料股份有限公司
案號 0921026032003-02-07IPC H01L23/544
對準標記之重現方法
台灣積體電路製造股份有限公司
案號 0921021232003-01-30IPC H01L23/544
晶片大小標記裝置及其標記方法
ＥＯ科技股份有限公司
案號 0921015572003-01-24IPC H01L23/544
用於半導體晶片進行積體電路怖局之記號設計的方法
中芯國際集成電路製造（上海）有限公司
案號 0911377992002-12-27IPC H01L23/544
陰影產生裝置
伊雷克托科學工業股份有限公司
案號 0911330952002-11-12IPC H01L23/544
標記位置檢測裝置
尼康股份有限公司
案號 0911331162002-11-12IPC H01L23/544
半導體裝置，其製造方法，及其檢查方法
夏普股份有限公司
案號 0911321712002-10-30IPC H01L23/544