IPC G01R31/00 專利列表
共 59 筆結果
顯示面板查驗裝置及查驗方法
東芝泰力股份有限公司
案號 0921269122003-09-29IPC G01R31/00
一種自動倉儲式老化試驗機之改良結構
晉速科技股份有限公司
案號 0921267542003-09-26IPC G01R31/00
測試裝置
恩智浦股份有限公司
案號 0921256162003-09-17IPC G01R31/00
用在平板顯示器之基板缺陷檢測裝置
優視股份有限公司
案號 0921256272003-09-17IPC G01R31/00
在晶片上即時可靠度測試之測試結構及其方法
特許半導體製造公司
案號 0921251432003-09-12IPC G01R31/00
使用視覺系統之電子產品檢測設備
ＲＴＳ股份有限公司
案號 0921244172003-09-04IPC G01R31/00
具有嵌入式認證碼之積體電路
恩智浦股份有限公司
案號 0921236062003-08-27IPC G01R31/00
顯示面板合併檢測電路
中華映管股份有限公司
案號 0921234962003-08-26IPC G01R31/00
模組，電子裝置及評估工具
恩智浦股份有限公司
案號 0921219852003-08-11IPC G01R31/00
輻射硬化之可見光Ｐ型-本質層-Ｎ型檢波器
瑞森公司
案號 0921192822003-07-14IPC G01R31/00
由於待測裝置故障之測試信號退化之補償
鋒法特股份有限公司
案號 0921190602003-07-11IPC G01R31/00
電路測試裝置、用於處理測試儀器內的量測資料之方法與利用其之測試電子電路之方法
泰瑞丹公司
案號 0921163682003-06-17IPC G01R31/00
在具有多個晶胞之陣列基板上之陣列測試系統
ＬＧ顯示器股份有限公司
案號 0921156562003-06-10IPC G01R31/00
測試電子零件之裝置及方法
皇家飛利浦電子股份有限公司
案號 0921151002003-06-03IPC G01R31/00
半導體裝置及其設計方法
東芝股份有限公司
案號 0921069492003-03-27IPC G01R31/00
電子元件之特性測定裝置
村田製作所股份有限公司
案號 0921043722003-03-03IPC G01R31/00
用以測試受測裝置之電子測試系統、其操作方法及儲存有測試執行程式的電腦可讀媒體
安捷倫科技公司
案號 0911354812002-12-06IPC G01R31/00
點燈測試裝置
友達光電股份有限公司
案號 0911333612002-11-14IPC G01R31/00
被檢查基板之檢查裝置
日本麥克隆尼股份有限公司
案號 0911325482002-11-05IPC G01R31/00