IPC G01R31/26 專利列表
共 68 筆結果
矩陣式連接器
宣德科技股份有限公司
案號 0921220122003-08-11IPC G01R31/26
向異導電性連接器及導電性電糊組成物，探針構件以及晶圓檢查裝置以及晶圓檢查方法
ＩＳＣ股份有限公司
案號 0921219022003-08-08IPC G01R31/26
可測試被動元件電性之晶片承載件及其測試方法
矽品精密工業股份有限公司
案號 0921213332003-08-05IPC G01R31/26
薄膜電晶體顯示器陣列之測試電路及方法
華昀科技股份有限公司
案號 0921212262003-08-01IPC G01R31/26
解耦電容的漏電流自我偵測電路
台灣積體電路製造股份有限公司
案號 0921209142003-07-30IPC G01R31/26
電子元件測試裝置
阿德潘鐵斯特股份有限公司
案號 0921206202003-07-29IPC G01R31/26
測量積體電路晶片中導線間耦合電容值的方法與量測裝置
華邦電子股份有限公司
案號 0921205642003-07-28IPC G01R31/26
可自行修正之半導體及其方法
馬維爾世界貿易股份有限公司
案號 0921201252003-07-23IPC G01R31/26
用於積體電路裝置中測試之內部產生圖案
倫巴司股份有限公司
案號 0921201022003-07-23IPC G01R31/26
應用於覆晶封裝製程之探針頭及其使用方法
聯華電子股份有限公司
案號 0921191762003-07-14IPC G01R31/26
電子元件測試插置座之移動限位件
威盛電子股份有限公司
案號 0921190612003-07-11IPC G01R31/26
晶圓測試方法
矽品精密工業股份有限公司
案號 0921188102003-07-10IPC G01R31/26
插接套件及具備該套件之電子元件移搬裝置
阿德潘鐵斯特股份有限公司
案號 0921188232003-07-10IPC G01R31/26
探測半導體晶圓之被屏蔽的探測裝置
色拉頓系統公司
案號 0921176572003-06-27IPC G01R31/26
可掀式探針卡反面調針治具
旺宏電子股份有限公司
案號 0921176252003-06-27IPC G01R31/26
加速半導體產品檢測速度之方法及系統
劉儼賦
案號 0921166342003-06-19IPC G01R31/26
用於開路／短路測試器之多插座板
吉林克斯公司
案號 0921163732003-06-17IPC G01R31/26
晶圓電性的測試方法及設備以及針測板電阻值的量測方法
茂德科技股份有限公司
案號 0921159542003-06-12IPC G01R31/26
即時調整壓力測試參數之測試系統及方法
英業達股份有限公司
案號 0921151012003-06-03IPC G01R31/26
積體電路分析裝置及方法
台灣積體電路製造股份有限公司
案號 0921150192003-06-03IPC G01R31/26