IPC G01R31/26 專利列表
共 68 筆結果
用於以高速事件為基礎之測試系統的事件處理設備及方法
艾德文斯特公司
案號 0911370422002-12-23IPC G01R31/26
適用於積體電路晶片之訊號檢測方法
威盛電子股份有限公司
案號 0911370202002-12-23IPC G01R31/26
處理以及測試半導體元件之方法
日月光半導體製造股份有限公司
案號 0911362262002-12-11IPC G01R31/26
半導體元件搬運機的對準裝置
未來產業股份有限公司
案號 0911354772002-12-06IPC G01R31/26
多晶片半導體裝置及測試方法以及系統用基板
日立製作所股份有限公司
案號 0911348382002-11-29IPC G01R31/26
具備高速輸入輸出裝置的半導體積體電路裝置的試驗方法以及試驗裝置
獨立行政法人科學技術振興機構
案號 0911345172002-11-27IPC G01R31/26
輸送裝置以及利用此輸送裝置之測試組
富士通微電子股份有限公司
案號 0911343552002-11-26IPC G01R31/26
測試半導體元件的裝置
矽控科技股份有限公司
案號 0911329722002-11-08IPC G01R31/26