IPC G01B11/06 專利列表
共 8 筆結果
膜厚取得方法
德克諾斯股份有限公司
案號 0931069912004-03-16IPC G01B11/06
光學式膜計測裝置
歐姆龍股份有限公司
案號 0931064192004-03-11IPC G01B11/06
一種簡易的玻璃厚度的量測系統
國立虎尾科技大學
案號 0921286412003-10-15IPC G01B11/06
對象物之膜厚測定裝置，對象物之分光反射率測定裝置及方法，暨對象物上之異物檢查裝置及方法
斯克林集團公司
案號 0921244422003-09-04IPC G01B11/06
量測薄膜或薄層之厚度的方法及裝置
島津製作所股份有限公司
案號 0921222302003-08-13IPC G01B11/06
光學膜厚度控制方法，光學膜厚度控制裝置，電介質多層膜製造裝置，及使用此控制裝置或製造裝置而製造之電介質多層膜
愛發科股份有限公司
案號 0921068522003-03-25IPC G01B11/06
使用於有機電激發光元件之有機薄膜之膜厚測定法及測定裝置
富山大學
案號 0921057932003-03-17IPC G01B11/06
金屬電鍍及種子層之厚度與輪廓之量測
迪伯技術股份有限公司
案號 0911362322002-12-13IPC G01B11/06