IPC G01R1/06 專利列表
共 33 筆結果
通電試驗用探針
日本麥克隆尼股份有限公司
案號 0931085882004-03-30IPC G01R1/067
探針檢查裝置
和碩聯合科技股份有限公司
案號 0931075972004-03-19IPC G01R1/067
探針之定位與固結裝置及探針之固結方法
飛而康公司
案號 0931070252004-03-17IPC G01R1/067
訊號量測探針之可調輔助固定器
神達電腦股份有限公司
案號 0931043672004-02-20IPC G01R1/067
積體化探針卡及組裝方式
財團法人工業技術研究院
案號 0931026832004-02-05IPC G01R1/06
具備光學式測長器的探針裝置及探針檢查方法
東京威力科創股份有限公司
案號 0931013702004-01-19IPC G01R1/06
複合式移動探測
鋒法特股份有限公司
案號 0921375062003-12-30IPC G01R1/067
測試卡之探針組件
ＭＩＣＯ ＴＮ股份有限公司
案號 0921346612003-12-09IPC G01R1/06
螺旋接觸器用的接觸端子及螺旋接觸器
阿波羅威普股份有限公司
案號 0921330072003-11-25IPC G01R1/067
用以測試平面板顯示器之探針及其製造方法
飛而康公司
案號 0921327332003-11-21IPC G01R1/06
射頻裝置用之檢驗具，及組入於該檢驗具之接觸探針
友華股份有限公司
案號 0921323782003-11-19IPC G01R1/06
連接單元、被測量元件搭載板、探針卡以及元件介面部
愛德萬測試股份有限公司
案號 0921297142003-10-27IPC G01R1/06
探針接觸檢測方法及探針裝置
東京威力科創股份有限公司
案號 0921241082003-09-01IPC G01R1/067
探針設備和使用探針設備的測試方法
東京威力科創股份有限公司
案號 0921228762003-08-20IPC G01R1/067
接觸設備，及包含使用該接觸設備於微波裝置測試之ＰＣＢ測試，及使用該ＰＣＢ測試的製造方法
ＬＥＥＮＯ工業有限公司
案號 0921225472003-08-15IPC G01R1/06
探針卡
日本電子材料股份有限公司
案號 0921187172003-07-09IPC G01R1/067
製造探針之方法、製造探針之光罩及探針
日本電子材料股份有限公司
案號 0921097752003-04-25IPC G01R1/067
晶圓或晶片測試用探針成形方法
普茵特科技有限公司
案號 0921095472003-04-22IPC G01R1/06
導電接觸探針
日本發條股份有限公司
案號 0921089092003-04-16IPC G01R1/067
半導體裝置
富士通股份有限公司
案號 0921084202003-04-11IPC G01R1/067