IP

IPC G03F7/20 專利列表

共 243 筆結果

應用基材之平面外變形的放大校正

分子壓模公司

案號 0921352212003-12-12IPC G03F7/20

識別碼之雷射標記方法及裝置

東麗工程股份有限公司

案號 0921351792003-12-12IPC G03F7/20

用於雙層影像系統之穩定非光敏性聚醯亞胺前驅物組成物

亞契專業化學公司

案號 0921350712003-12-11IPC G03F7/20

曝光方法、曝光裝置及元件製造方法

尼康股份有限公司

案號 0921348012003-12-10IPC G03F7/20

曝光裝置及元件製造方法

尼康股份有限公司

案號 0921348052003-12-10IPC G03F7/20

曝光裝置及方法

佳能股份有限公司

案號 0921348942003-12-10IPC G03F7/20

微影投影裝置及半導體元件製造方法

ASML荷蘭公司

案號 0921348832003-12-10IPC G03F7/20

曝光裝置及元件製造方法

尼康股份有限公司

案號 0921347942003-12-10IPC G03F7/20

帶狀工件的曝光裝置及光罩與工件台的平行設定方法

牛尾電機股份有限公司

案號 0921342092003-12-04IPC G03F7/20

微影裝置及元件製造方法

ASML荷蘭公司

案號 0921333912003-11-27IPC G03F7/20

於折反射微影系統中維持未迴轉(非鏡射)影像的分光器光學件設計

ASML控股公司

案號 0921334082003-11-27IPC G03F7/20

微影裝置製造方法及電腦可讀取媒體

ASML荷蘭公司

案號 0921331752003-11-26IPC G03F7/20

微影裝置及元件製造方法

ASML荷蘭公司

案號 0921331742003-11-26IPC G03F7/20

微影裝置及元件製造方法

ASML荷蘭公司

案號 0921331572003-11-26IPC G03F7/20

微影設備及積體電路裝置製造方法

ASML荷蘭公司

案號 0921330522003-11-25IPC G03F7/20

曝光裝置之製造方法,光源單元、曝光裝置、曝光方法以及曝光裝置的調整方法

尼康股份有限公司

案號 0921328692003-11-24IPC G03F7/20

微影裝置及元件製造方法

ASML荷蘭公司

案號 0921327342003-11-21IPC G03F7/20

具有複數個抑制網之微影投射裝置

ASML荷蘭公司

案號 0921327352003-11-21IPC G03F7/20

EUV曝光方法、EUV曝光裝置及曝光基板

尼康股份有限公司

案號 0921323592003-11-19IPC G03F7/20

微影裝置及器件製造方法

ASML荷蘭公司

案號 0921321342003-11-17IPC G03F7/20

本站使用 Cookie 進行流量分析,以提供更好的使用體驗。