IPC H01L21/66 專利列表
共 250 筆結果
晶圓缺陷之快速線上電光偵測之方法及系統
奈格夫泰克公司
案號 0921007772003-01-15IPC H01L21/66
物理氣相沈積真空反應室的光阻污染檢測方法及裝置
華邦電子股份有限公司
案號 0921007552003-01-15IPC H01L21/66
動態隨機存取記憶之測試結構
南亞科技股份有限公司
案號 0921004022003-01-09IPC H01L21/66
報廢紀錄系統及方法
日月光半導體製造股份有限公司
案號 0921002222003-01-07IPC H01L21/66
材料處理系統之誤差偵測之方法
東京威力科創有限公司
案號 0911380292002-12-31IPC H01L21/66
晶圓測試方法
日月光半導體製造股份有限公司
案號 0911381722002-12-31IPC H01L21/66
缺陷檢測參數分析方法
力晶半導體股份有限公司
案號 0911381672002-12-31IPC H01L21/66
具有一測試機及一偵測機之半導體測試系統及其測試方法
華邦電子股份有限公司
案號 0911376132002-12-27IPC H01L21/66
對準失誤之測試結構及測試方法
南亞科技股份有限公司
案號 0911377522002-12-27IPC H01L21/66
測量裝置
大日本網板製造股份有限公司
案號 0911376802002-12-27IPC H01L21/66
計算實際增加之缺陷數目的方法
旺宏電子股份有限公司
案號 0911370802002-12-23IPC H01L21/66
半導體搬運機之揀取裝置
未來產業股份有限公司
案號 0911368502002-12-20IPC H01L21/66
積體電路之不良品的檢測方法
台達電子工業股份有限公司
案號 0911370042002-12-20IPC H01L21/66
半導體裝置及其製造方法
山葉股份有限公司
案號 0911366502002-12-19IPC H01L21/66
量測電鍍層活性厚度之校正方法
百慕達南茂科技股份有限公司
案號 0911370892002-12-19IPC H01L21/66
以聚焦離子束進行表面分析的方法
友達光電股份有限公司
案號 0911366912002-12-19IPC H01L21/66
一種半導體量測用之偵測卡
思達科技股份有限公司
案號 0911366012002-12-18IPC H01L21/66
具有辨識功能之積體電路裝置之測試頭模組及其辨識方法
日月光半導體製造股份有限公司
案號 0911370912002-12-17IPC H01L21/66
測試蝕刻速率的結構及方法
財團法人工業技術研究院
案號 0911363562002-12-17IPC H01L21/66
半導體裝置及半導體記憶裝置之檢查方法
三菱電機股份有限公司
案號 0911363052002-12-16IPC H01L21/66