IP

IPC H01L21/76 專利列表

共 492 筆結果

控制溝槽頂部尺寸的方法

南亞科技股份有限公司

案號 0921146932003-05-30IPC H01L21/76

在半導體層中形成半導體裝置之方法及其結構

恩智浦美國公司

案號 0921141852003-05-26IPC H01L21/762

自我對準接觸窗之側壁間隙壁結構及其製造方法

三星電子股份有限公司

案號 0921139462003-05-23IPC H01L21/768

互連線之設計方法

NEC電子股份有限公司

案號 0921139922003-05-23IPC H01L21/768

降低反窄通道效應之淺溝渠隔離製程

台灣積體電路製造股份有限公司

案號 0921139712003-05-23IPC H01L21/76

插塞的形成方法

南亞科技股份有限公司

案號 0921139632003-05-23IPC H01L21/768

導電插塞之製造方法及半導體裝置

台灣積體電路製造股份有限公司

案號 0921138272003-05-22IPC H01L21/768

具有無凹陷與侵蝕之內連線的半導體元件以及製作該半導體元件之方法

NEC電子股份有限公司

案號 0921135372003-05-20IPC H01L21/768

使溝槽電容之溝槽均勻填入罩幕層的方法及形成具有均勻一致之溝槽電容之下電極的方法

南亞科技股份有限公司

案號 0921134372003-05-19IPC H01L21/76

閘極介電層的製作方法

聯華電子股份有限公司

案號 0921131712003-05-15IPC H01L21/762

形成位元線接觸窗之方法

南亞科技股份有限公司

案號 0921130292003-05-14IPC H01L21/768

位元線接觸的充填方法

南亞科技股份有限公司

案號 0921126482003-05-09IPC H01L21/76

矽覆絕緣結構中蝕刻溝渠的方法

應用材料股份有限公司

案號 0921126182003-05-08IPC H01L21/76

多厚度半導體互連及其方法

北星創新股份有限公司

案號 0921124562003-05-07IPC H01L21/76

淺溝渠隔離區之結構及其製造方法

南亞科技股份有限公司

案號 0921122892003-05-06IPC H01L21/764

半導體裝置之製造方法

三菱電機股份有限公司

案號 0921123052003-05-06IPC H01L21/768

金屬內連線製程以及填開口的方法

茂德科技股份有限公司

案號 0921122912003-05-06IPC H01L21/768

改善淺溝隔離漏電的方法

南亞科技股份有限公司

案號 0921122102003-05-05IPC H01L21/76

於矽鍺層基底中形成淺溝槽隔離物之方法

台灣積體電路製造股份有限公司

案號 0921121062003-05-02IPC H01L21/76

改進位元線和位元線接觸短路的結構與方法

南亞科技股份有限公司

案號 0921121012003-05-02IPC H01L21/768

本站使用 Cookie 進行流量分析,以提供更好的使用體驗。